양동윤 박사, 정지문 TL과의 공동 연구 논문, IEEE OJIES 게재 승인

SK hynix 자문교수로서 양동윤 박사, 정지문 TL과 함께 수행한 공동 연구 논문 “Improving Semiconductor Defect Classification in SEM Images via Domain Adaptation” 이 IEEE Open Journal of the Industrial Electronics Society 에 게재 승인되었습니다.

이번 연구는 SEM 이미지 기반 반도체 결함 분류에서 도메인 적응 기법을 활용해 분류 성능을 개선하는 방법을 제안하였으며, 실제 반도체 제조 공정에서의 적용 가능성이 높은 실용적 성과로 기대됩니다. 게재를 축하합니다.